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Electronics

Electronics

SCISCIE

国际简称:ELECTRONICS-SWITZ  参考译名:电子产品

  • 中科院分区

    3区

  • CiteScore分区

    Q1

  • JCR分区

    Q2

基本信息:
ISSN:2079-9292
E-ISSN:2079-9292
是否OA:开放
是否预警:否
TOP期刊:否
出版信息:
出版地区:SWITZERLAND
出版商:MDPI
出版语言:English
出版周期:Semi-monthly
出版年份:2012
研究方向:Computer Science-Computer Networks and Communications
评价信息:
影响因子:2.9
H-index:21
CiteScore指数:7
SJR指数:0.623
SNIP指数:1.034
发文数据:
Gold OA文章占比:99.95%
研究类文章占比:95.16%
年发文量:5108
自引率:0.1034...
开源占比:0.9941
出版撤稿占比:
出版国人文章占比:0
OA被引用占比:
英文简介 期刊介绍 CiteScore数据 中科院SCI分区 JCR分区 发文数据 常见问题

英文简介Electronics期刊介绍

Electronics (ISSN 2079-9292; CODEN: ELECGJ) is an international, open access journal on the science of electronics and its applications published quarterly online by MDPI.

期刊简介Electronics期刊介绍

《Electronics》自2012出版以来,是一本计算机科学优秀杂志。致力于发表原创科学研究结果,并为计算机科学各个领域的原创研究提供一个展示平台,以促进计算机科学领域的的进步。该刊鼓励先进的、清晰的阐述,从广泛的视角提供当前感兴趣的研究主题的新见解,或审查多年来某个重要领域的所有重要发展。该期刊特色在于及时报道计算机科学领域的最新进展和新发现新突破等。该刊近一年未被列入预警期刊名单,目前已被权威数据库SCI、SCIE收录,得到了广泛的认可。

该期刊投稿重要关注点:

Cite Score数据(2026年6月最新版)Electronics Cite Score数据

  • CiteScore:7
  • SJR:0.623
  • SNIP:1.034
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Computer Science 小类:Signal Processing Q1 35 / 203

83%

大类:Computer Science 小类:Electrical and Electronic Engineering Q1 211 / 1030

79%

大类:Computer Science 小类:Computer Networks and Communications Q1 123 / 568

78%

大类:Computer Science 小类:Control and Systems Engineering Q1 87 / 390

77%

大类:Computer Science 小类:Hardware and Architecture Q1 59 / 245

76%

CiteScore 是由Elsevier(爱思唯尔)推出的另一种评价期刊影响力的文献计量指标。反映出一家期刊近期发表论文的年篇均引用次数。CiteScore以Scopus数据库中收集的引文为基础,针对的是前四年发表的论文的引文。CiteScore的意义在于,它可以为学术界提供一种新的、更全面、更客观地评价期刊影响力的方法,而不仅仅是通过影响因子(IF)这一单一指标来评价。

历年Cite Score趋势图

中科院SCI分区Electronics 中科院分区

《新锐期刊分区表》(2026年3月发布) 综述期刊:否 Top期刊:否
大类学科 分区 小类学科 分区
计算机科学 3区 COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS 计算机:信息系统 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 4区 3区 3区
期刊分区表(2025年3月升级版) 综述期刊:否 Top期刊:否
大类学科 分区 小类学科 分区
计算机科学 4区 COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS 计算机:信息系统 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 4区 4区 4区
期刊分区表(2023年12月升级版) 综述期刊:否 Top期刊:否
大类学科 分区 小类学科 分区
工程技术 3区 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS 计算机:信息系统 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 3区 4区 4区
期刊分区表(2022年12月升级版) 综述期刊:否 Top期刊:否
大类学科 分区 小类学科 分区
工程技术 3区 COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS 计算机:信息系统 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 4区 4区 4区
期刊分区表(2021年12月升级版) 综述期刊:否 Top期刊:否
大类学科 分区 小类学科 分区
工程技术 4区 COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS 计算机:信息系统 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 4区 4区 4区

中科院分区表 是以客观数据为基础,运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准。它为我国科研、教育机构的管理人员、科研工作者提供了一份评价国际学术期刊影响力的参考数据,得到了全国各地高校、科研机构的广泛认可。

中科院分区表 将所有期刊按照一定指标划分为1区、2区、3区、4区四个层次,类似于“优、良、及格”等。最开始,这个分区只是为了方便图书管理及图书情报领域的研究和期刊评估。之后中科院分区逐步发展成为了一种评价学术期刊质量的重要工具。

历年中科院分区趋势图

JCR分区Electronics JCR分区

2025-2026年最新版
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS SCIE Q3 143 / 266

46.4

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 174 / 369

53

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 96 / 191

50

学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS SCIE Q3 149 / 266

44.17

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 176 / 371

52.7

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 81 / 191

57.85

2023-2024年最新版
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS SCIE Q2 115 / 249

54

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 157 / 352

55.5

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 81 / 179

55

学科:COMPUTER SCIENCE, INFORMATION SYSTEMS SCIE Q2 123 / 251

51.2

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 152 / 354

57.2

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 68 / 179

62.29

JCR分区的优势在于它可以帮助读者对学术文献质量进行评估。不同学科的文章引用量可能存在较大的差异,此时单独依靠影响因子(IF)评价期刊的质量可能是存在一定问题的。因此,JCR将期刊按照学科门类和影响因子分为不同的分区,这样读者可以根据自己的研究领域和需求选择合适的期刊。

历年影响因子趋势图

发文数据

国家/地区发文量统计
  • 国家/地区数量
  • CHINA MAINLAND1292
  • South Korea831
  • Spain399
  • Italy358
  • USA316
  • Pakistan189
  • England159
  • Taiwan138
  • Saudi Arabia118
  • Portugal102

本刊中国学者近年发表论文

  • 1、Diffusion Models: Unlocking the 4 Secrets of High-Quality Image Generatio

    Author: Zhou, Tao; Zhang, Zhe; Zhang, Mingzhe; Chai, Wenwen; Xia, Yong; Hu, Fuyuan

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081755

  • 2、AI Clothing Pattern Generation: Combining Improved Pix2Pix Image Generation and Diffusion Model Repairin

    Author: Zheng, Xiaohu; Li, Xiechen; Liu, Bing; Xu, Bingshun

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081751

  • 3、Shared-Aperture Antenna Decoupling Optimization Method Based on Deep Learning Assistanc

    Author: Zhang, Wenwu; Tang, Bo; Liu, Peng; Li, Peng; Li, Lei

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081766

  • 4、PrivAgriVolt: Privacy-Preserving Shadow-Aware Vision for Crop Stress Diagnosis in Agrivoltaic Photovoltaic System

    Author: Yin, Zuoming; Zhang, Yifei; Lei, Qiangqiang; Feng, Fang

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081762

  • 5、Semantic-Aware Resource Allocation for Massive Payload Data Backhaul in Space-Ground TT&C Network

    Author: Song, Chenrui; Guo, Ziji; Zhang, Zhilong; Liu, Danpu; Li, Guixin; Ren, Yiguang

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081764

  • 6、Complex-Scene-Oriented Autonomous Decision-Making Method for UAV

    Author: Qu, Hongwei; Zou, Jinlin

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081757

  • 7、Faulty Line Selection Method Based on Differentiation of Zero-Sequence Current Characteristics for Flexible Grounding System

    Author: Huang, Yafeng; Ye, Junhang; Sun, Jiaqing

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081754

  • 8、An RT-Supervised Simulation-to-Simulation Framework for Path Loss Radio Map Prediction Based on Geographic Environmental Informatio

    Author: Huai, Hanpeng; Feng, Linsong; Yuan, Zhe; Li, Yishun; Han, Botao; Cheng, Qingyu; He, Guoxuan

    Journal: ELECTRONICS. 2026; Vol. 15, Issue 8, pp. -. DOI: 10.3390/electronics15081750

投稿常见问题

通讯方式:MDPI, ST ALBAN-ANLAGE 66, BASEL, SWITZERLAND, CH-4052。